FIB切割

FIB切割（非定点）利用聚焦离子束对样品截面进行逐层剥离，适用于材料形貌、界面、失效分析与成分检测。第三方检测机构可提供耐久性、物理性能、可靠性、热工学、电学等多元性能非标测试服务，帮助客户解析样品结构、定位质量隐患并提升产品可靠性，为材料研发、质量验证与失效分析提供样品制备支撑。